|  |
33257 Visualisering af mikro og nanostrukturer |
| | |  | Engelsk titel:
| Visualisation of Micro and Nano Structures | Sprog:
| | Point
(ECTS )
| 5 | Kursustype:
| Civil- Grundlæggende kursus
| | Kurset udbydes under åben uddannelse |
| | |
| Skemaplacering:
| F1B
| Undervisningsform: | Forelæsninger og øvelser, 4 timer om ugen. | Kursets varighed:
| 13-uger | Eksamensplacering:
| F1B
| Evalueringsform:
| | Eksamens varighed:
| | Hjælpemidler:
| | Bedømmelsesform: | | Faglige forudsætninger: | | Ønskelige forudsætninger: | |
| Overordnede kursusmål:
| Mikro og nano strukturer indgår som et centralt element i en lang række såvel forsknings som industrielt orienterede projekter og produkter.
Målet med kurset er at give dig et overblik over metoder til visualisering af disse strukturer, samt at forstå den bagvedliggende fysik.
Med denne viden vil du være i stand til at vælge de rigtige metoder til en given anvendelse samt at diagnosticere og videreudvikle disse visualiseringsteknikker.
Endvidere vil du være i stand til at fortolke de informationer som teknikkerne frembringer. Dette kan både være formen af emnet der undersøges (topografi) og dets materialeegenskaber. |
| Læringsmål: | | En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne: | - Opsummere fordele og ulemper ved optisk mikroskopi (OM).
- Opsummere fordele og ulemper ved skanning elektron mikroskopi (SEM) og transmission elektron mikroskopi (TEM)
- Opsummere fordele og ulemper ved Atomic force mikroskopi (AFM) og skanning tunneling mikroskopi (STM)
- Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne ved ovenstående metoder
- Beregne og vurdere metrologiske aspekter af data genereret med ovenstående metoder
- Analysere og fortolke data genereret med ovenstående metoder
- Sammenligne egenskaber og relatere karakteristika af de ovenstående metoder
- Udvælge de rette visualiseringsmetoder til en given anvendelse
| Kursusindhold:
| På kurset gennemgås de vigtigste metoder til visualisering af mikro og nanostrukturer som anvendes på DTU og tilknyttede virksomheder. Dette omfatter bl.a.
· Optisk mikroskopi (OM)
· Skanning elektron mikroskopi (SEM)
· Transmissions elektron mikroskopi (TEM)
· Skanning tunnel mikroskop (STM)
· Atomic force mikroskop (AFM)
Hver teknik gennemgås i en dedikeret hands-on øvelse. I disse øvelser vil du få adgang til state-of-the-art udstyr for at afbillede en prøve. Dette vil bidrage til forståelse af de gennemgåede visualiseringsmetoder.
Udover de praktiske øvelser, skal du gennemgå og evaluere en videnskablig artikels brug af visualiseringsmetoder. |
| Litteratur:
| Kompendium til kurset 33257 |
| Mulighed for GRØN DYST deltagelse:
| Kontakt underviseren for information om hvorvidt dette kursus giver den studerende mulighed for at lave eller forberede et projekt som kan deltage i DTUs studenterkonference om bæredygtighed, klimateknologi og miljø (GRØN DYST). Se mere på |
| Kursusansvarlig:
| , 344, 128, (+45) 4525 5753,
, 307, 038, (+45) 4525 3232,
, 307, 119, (+45) 4525 6471,
, 307, 116, (+45) 4525 6487,
| Institut:
| 33 Institut for Mikro- og Nanoteknologi | Deltagende institut:
| 10 Institut for Fysik
59 Center for Elektronnanoskopi | Nøgleord: | nanoteknologi, metrologi, mikroskopi, visualisering af mikro og nanostrukturer |
|
|
| | Sidst opdateret:
6. juli, 2012 |
Åbn kurset i Kursusbasen
|